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Como posso testar para ver se há algo errado com meu SSD?

Então, algumas semanas atrás eu atualizei para 17.10 e praticamente ao mesmo tempo eu atualizei para Android Studio 3, e foi provavelmente um erro atualizar tanto como agora eu não sei onde está o problema.

Basicamente parece que o disco IO ficou muito ruim. No começo eu notei que estava trocando, então eu dobrei meu ram (32 shows agora) e nunca mais troquei. Mas a máquina ainda congela quando o disco IO acontece. Por congelamentos, quero dizer que vai ficar muito lento, ao ponto que eu posso digitar e não vou ver o que estou digitando por alguns segundos, muitas vezes eu vou pegar uma longa seqüência de uma tecla quando isso acontece.

Quando vou confirmar meu código, Android O Studio faz uma análise do código e a interface do usuário apenas congela enquanto faz isso. Leva alguns segundos. Nenhum desses problemas costumava acontecer antes de atualizar as duas coisas.

Além disso, quando o backup da estação de nuvem é executado no meu NAS, fica ridiculamente lento.

Eu tenho um SSD Samsung SSD 850 PRO 512GB.

Então, o que posso correr para ver qual é o problema?

Obrigado.

Editar:

Saída Smartctl:

smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.13.0-16-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family:     Samsung based SSDs
Device Model:     Samsung SSD 850 PRO 512GB
Serial Number:    S250NSAG809789J
LU WWN Device Id: 5 002538 8a0af305f
Firmware Version: EXM02B6Q
User Capacity:    512,110,190,592 bytes [512 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is:   ACS-2, ATA8-ACS T13/1699-D revision 4c
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is:    Tue Nov 28 16:22:20 2017 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
                    was never started.
                    Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                    without error or no self-test has ever 
                    been run.
Total time to complete Offline 
data collection:        (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:            (0x53) SMART execute Offline immediate.
                    Auto Offline data collection on/off support.
                    Suspend Offline collection upon new
                    command.
                    No Offline surface scan supported.
                    Self-test supported.
                    No Conveyance Self-test supported.
                    Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                    power-saving mode.
                    Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                    General Purpose Logging supported.
Short self-test routine 
recommended polling time:    (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:    ( 272) minutes.
SCT capabilities:          (0x003d) SCT Status supported.
                    SCT Error Recovery Control supported.
                    SCT Feature Control supported.
                    SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0032   095   095   000    Old_age   Always       -       23126
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       75
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   098   098   000    Pre-fail  Always       -       117
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   100   100   010    Pre-fail  Always       -       0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   070   057   000    Old_age   Always       -       30
195 ECC_Error_Rate          0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 CRC_Error_Count         0x003e   100   100   000    Old_age   Always       -       0
235 POR_Recovery_Count      0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       34
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       37060089586

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]

SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

df -i output:

Filesystem              Inodes   IUsed    IFree IUse% Mounted on
udev                   4096227     613  4095614    1% /dev
tmpfs                  4111096    1024  4110072    1% /run
/dev/sda1             29908992 4301747 25607245   15% /
tmpfs                  4111096     524  4110572    1% /dev/shm
tmpfs                  4111096       5  4111091    1% /run/lock
tmpfs                  4111096      18  4111078    1% /sys/fs/cgroup
tmpfs                  4111096      17  4111079    1% /run/user/122
tmpfs                  4111096     458  4110638    1% /run/user/1000
/home/mydir/.Private 29908992 4301747 25607245   15% /home/mydir
5
casolorz

Instale Gnome Disk Utility e verifique os testes de contagem de nivelamento de desgaste e SMART Dados ou qualquer similar.

Quanto maior a porcentagem relatada, mais desgastado é o seu SSD, o que significa que você tem maior probabilidade de encontrar problemas.

Instale usando:

apt-get install gnome-disk-utility

Lançar via linha de comando

Sudo palimpsest

ou através do menu do aplicativo sob o nome Disk Utility.

1
Tom

Edit: no que diz respeito ao fato de que eu esqueci que nem todo mundo saberia isso: dados normalizados inteligentes contagem abaixo não up!

O comando específico que você está procurando é:

# smartctl -a /dev/sda | grep Media_Wearout_Indicator

quanto mais alto, mais é provável que você tenha problemas. como um aparte eu recomendaria considerar a substituição de sua unidade depois que isso acontecer:

  • 50% - Mission Critical Drives (coisas que, por razões além do escopo aqui, são NECESSÁRIO para ser acessível não importa o que .

  • 30% - sua/home drive (seus filmes/músicas/arquivos pessoais, coisas que você gosta de ter em mãos)

  • 20% de todo o resto (drives colocados online apenas para backups antes de serem enviados para armazenamento a frio, drives que suportam sistemas operacionais que você usa apenas ocasionalmente, etc)

1
Gartral

De acordo com sua saída de log, você nunca executou um teste inteligente na unidade. Existem algumas maneiras de fazer isso. Uma maneira é através da GUI, conforme descrito na minha resposta aqui

Outra maneira é emitir o comando através da linha de comando conforme descrito pela resposta aqui

Os resultados de quaisquer testes são adicionados ao log, conforme mostrado no snippet de saída do comando Sudo smartctl -a /dev/sda abaixo do meu SSD Toshiba THNSNH128GBST:

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Short offline       Completed without error       00%     14965         -
# 2  Short offline       Completed without error       00%      1955         -
# 3  Short offline       Completed without error       00%       701         -
0
Elder Geek